Вплив сонячного спалаху на іоносфери Венери і Землі за даними супутників «Пионер-Венера» і «Dynamics Explorer-B» Кіров Б, Георгієва К, Данов Д, Банков Л, Васілєва А. Вплив сонячного спалаху на іоносфери Венери і Землі за даними супутників «Пионер-Венера» і «Dynamics Explorer-B». Косм. наука технол. 2000 ;6(5):29-34.
Топографічні поверхні і гравітаційні поля Землі, Місяця і планет земної групи Каменський КК, Кислюк ВС, Яцків ЯС. Топографічні поверхні і гравітаційні поля Землі, Місяця і планет земної групи. Косм. наука технол. 2000 ;6(1):56–63.
Про одну дивну схожість структури Сонячної системи і моделі молекули води Прісняков ВФ. Про одну дивну схожість структури Сонячної системи і моделі молекули води. Косм. наука технол. 1999 ;5(2):113–118.
Програмне забезпечення «Klio» для визначення параметрів іоносфери Хода ОО. Програмне забезпечення «Klio» для визначення параметрів іоносфери. Косм. наука технол. 1999 ;5(5):25–32.
Аналіз закономірностей мікро-макроструктури сонячної циклічності Войчишин КС. Аналіз закономірностей мікро-макроструктури сонячної циклічності. Косм. наука технол. 1998 ;4(4):132–137.
Структура змінності густини потоку квазара 3С 273 в радіодіапазоні Донських ГІ. Структура змінності густини потоку квазара 3С 273 в радіодіапазоні. Косм. наука технол. 2016 ;22(3):41-49.
Діагностичність досліджень опозиційного ефекту за космічними зображеннями Шкуратов ЮГ, Креславський МО, Овчаренко ОО, Муйнонен К, Пійронен Й, Картунен X. Діагностичність досліджень опозиційного ефекту за космічними зображеннями. Косм. наука технол. 1998 ;4(1):54–59.
Завдання місячного полярного супутника після КА «Клементина» Шкуратов ЮГ, Бондаренко НВ, Качанов АС. Завдання місячного полярного супутника після КА «Клементина». Косм. наука технол. 1998 ;4(1):46–53.
Прогноз вмісту заліза і титану в місячному реголіті для зіставлення з даними КА «Лунар Проспектор» Шкуратов ЮГ, Кайдаш ВГ, Опанасенко МВ, Станкевич ДГ, Парусімов ВГ. Прогноз вмісту заліза і титану в місячному реголіті для зіставлення з даними КА «Лунар Проспектор». Косм. наука технол. 1997 ;3(2):59–70.