Метод розрахунку інтенсивності одиночних подій з урахуванням реальної захищеності інтегральних схем в місцях їх розміщення всередині космічного апарату

Рубрика: 
Космічні апарати і корисне навантаження
Доценко, ОВ, Дмитренко, ВЯ, Тарасов, ВБ, Шовкопляс, ЮА
Косм. наука технол. 2007, 13 ;(3):019-026
https://doi.org/10.15407/knit2007.03.019
Мова публікації: російська
Анотація: 
Подається метод розрахунку інтенсивності одиночних подій, що використовується у роботах із забезпечення стійкості космічних апаратів до впливу іонізаційного випромінювання. Метод дозволяє розраховувати інтенсивність одиночних подій з урахуванням реального розподілу захистів у місці розташування інтегральної схеми всередині космічного апарата. Результати розрахунку зіставлено із результатами, отриманими з використанням стандартної моделі CREME-96.
Ключові слова: іонізаційне випромінювання, забезпечення стійкості, метод
 
Повний текст (PDF)
 
References: 
1. Кузнецов Н. В., Ныммик Р. А. Радиационные одиночные сбои микроэлектроники космических аппаратов, обусловленные событиями солнечных космических лу­чей // Космич. исслед.—1997.—35, № 5.—С. 465— 479.
2. Чумаков А. И. Действие космической радиации на интегральные схемы. — М.: Радио и связь, 2004.— 320 с.
3. ECSS-E-10-04. Space Engineering. Space Environment. — Noordwijk, The Netherlands, ECSS Secretariat, ESA- ESTEC, Requirements & Standards Division, 2000.— 196 p.
4. ESA/SCC basic specification N 25100. Single event test method and guidelines. — European Space Agency, 1995.—23 p.
5. Inguimbert C., Duzellier S. SEU rate calculation with GEANT4 (Comparison with CREME-86) // IEEE Trans. Nucl. Sci.—2004.—51, N 5.—P. 2805—2810.
6. JESD89. Measurement and reporting of alpha particles and terrestrial cosmic ray-induced soft errors in semiconductor devices. — JEDEC Solid State Technology Association, 2001.—64 p.
7. Koons H. C., Mazur J. E., Selesnic R. S., et al. The impact of the space environment on space systems // Aerospace Report N TR-99(1670)-1, prepared by Space and Missile Systems Center, L. A. 1999.—202 p.

8. Tylka A. J., Adams J. H., Boberg P. R., et. al. CREME96: a revision of the cosmic ray effects on micro-electronics code // IEEE Trans. Nucl. Sci.—1997.—44, N 6.— P. 2150—2160.