Метод расчета интенсивности одиночных событий с учетом реальной защищенности интегральных схем в местах их размещения внутри космического аппарата
| Доценко, ОВ, Дмитренко, ВЯ, Тарасов, ВБ, Шовкопляс, ЮА |
| Косм. наука технол. 2007, 13 ;(3):019-026 |
| https://doi.org/10.15407/knit2007.03.0019 |
| Язык публикации: русский |
Аннотация: Подается метод расчета интенсивности одиночных событий, который используется в работах по обеспечению устойчивости космических аппаратов к воздействию ионизационнного излучения. Метод позволяет рассчитывать интенсивность одиночных событий с учетом реального распределения защит в месте расположения интегральной схемы внутри космического аппарата. Результаты расчета сопоставлены с результатами, полученными с использованием стандартной модели CREME-96.
|
| Ключевые слова: ионизационнное излучение, метод, обеспечение устойчивости |
References:
1. Кузнецов Н. В., Ныммик Р. А. Радиационные одиночные сбои микроэлектроники космических аппаратов, обусловленные событиями солнечных космических лучей // Космич. исслед.—1997.—35, № 5.—С. 465— 479.
2. Чумаков А. И. Действие космической радиации на интегральные схемы. — М.: Радио и связь, 2004.— 320 с.
3. ECSS-E-10-04. Space Engineering. Space Environment. — Noordwijk, The Netherlands, ECSS Secretariat, ESA- ESTEC, Requirements & Standards Division, 2000.— 196 p.
4. ESA/SCC basic specification N 25100. Single event test method and guidelines. — European Space Agency, 1995.—23 p.
5. Inguimbert C., Duzellier S. SEU rate calculation with GEANT4 (Comparison with CREME-86) // IEEE Trans. Nucl. Sci.—2004.—51, N 5.—P. 2805—2810.
6. JESD89. Measurement and reporting of alpha particles and terrestrial cosmic ray-induced soft errors in semiconductor devices. — JEDEC Solid State Technology Association, 2001.—64 p.
7. Koons H. C., Mazur J. E., Selesnic R. S., et al. The impact of the space environment on space systems // Aerospace Report N TR-99(1670)-1, prepared by Space and Missile Systems Center, L. A. 1999.—202 p.
8. Tylka A. J., Adams J. H., Boberg P. R., et. al. CREME96: a revision of the cosmic ray effects on micro-electronics code // IEEE Trans. Nucl. Sci.—1997.—44, N 6.— P. 2150—2160.